紫外老化試驗箱可見分光光度計的zui佳保養(yǎng)方法

分析儀器工作者要懂得儀器的日常維護(hù)和對主要技術(shù)指標(biāo)的簡易測試方法，自己經(jīng)常對儀器進(jìn)行維護(hù)和測試，以保證儀器工作在zui佳狀態(tài)。

一、溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素。他們可以引起機(jī)械部件的銹蝕，使金屬鏡面的光潔度下降，引起儀器機(jī)械部分的誤差或性能下降；造成光學(xué)部件如光柵、反射鏡、聚焦鏡等的鋁膜銹蝕，產(chǎn)生光能不足、雜散光、噪聲等，甚至儀器停止工作，從而影響儀器壽命。維護(hù)保養(yǎng)時應(yīng)定期加以校正。應(yīng)具備四季恒濕的儀器室，配置恒溫設(shè)備，特別是地處南方地區(qū)的實驗室。

二、環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機(jī)械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關(guān)、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學(xué)部件鋁膜銹蝕的原因之一。因此必須定期清潔，保障環(huán)境和儀器室內(nèi)衛(wèi)生條件，防塵。。

三、儀器使用**周期后，內(nèi)部會積累**量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導(dǎo)下定期開啟儀器外罩對內(nèi)部進(jìn)行除塵工作，同時將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對光學(xué)盒的密封窗口進(jìn)行清潔，必要時對光路進(jìn)行校準(zhǔn)，對機(jī)械部分進(jìn)行清潔和必要的潤滑，zui后，恢復(fù)原狀，再進(jìn)行一些必要的檢測、調(diào)校與記錄。

　　1、工作環(huán)境檢查：

　　1）放置要求：儀器應(yīng)平穩(wěn)的擺放在水平固定的桌面上。(因為分光光度計為精密光學(xué)儀器,在運行的過程中如果桌面不穩(wěn)，會影響其工作狀態(tài),且儀器處在工作狀態(tài)時，燈絲處于高溫狀態(tài),此時如果有劇烈的震動會導(dǎo)致燈絲折斷。)

　　2）溫度要求：工作環(huán)境的溫度在5-35度之間。(儀器在工作狀態(tài)時內(nèi)部較熱需要用儀器自身的散熱風(fēng)扇與外界空氣進(jìn)行熱交換散熱,如果外界溫度過高,會導(dǎo)致儀器內(nèi)部溫度過高,從而加速儀器電器件與燈的老化速度,從而影響儀器的使用壽命。)

　　3）濕度要求：工作環(huán)境的相對濕度不超過85%。（儀器內(nèi)部有很多電器元件與光學(xué)件，在濕度太高的情況下，電器件容易老化或燒壞，光學(xué)件表面的鍍鋁膜也容易發(fā)霉。）

　　4）空氣狀況：空氣中不應(yīng)有足以引起腐蝕的有害氣體和過多的塵土存在。

　　2、樣品室檢查：

　　1）在開機(jī)之前，先要檢查樣品室中是否有比色皿或其他物品，因為儀器在開機(jī)后要進(jìn)行一系列的功能自檢，如果有物品放在樣品室中會導(dǎo)致自檢出錯。

　　2）每次使用后應(yīng)檢查樣品室是否積存有溢出溶液，須經(jīng)常擦拭樣品室，以防止廢液對部件或光路系統(tǒng)的腐蝕。

　　3）在測試完成后，請及時將樣品從樣品室中取出，否則，液體揮發(fā)會導(dǎo)致鏡片發(fā)霉。對易揮發(fā)和腐蝕性的液體，尤其要注意！如果樣品室中有漏液，請及時擦拭干凈，否則會引起樣品室內(nèi)的部件腐蝕和螺釘生銹。

　　3、儀器的表面清潔：

　　儀器外殼表面經(jīng)過噴漆工藝處理過，如果不小心將溶液漏灑在外殼上，請立即用濕毛巾擦拭干凈，杜絕使用有機(jī)溶液擦拭。如果長時間不用時，請注意及時清理儀器表面的灰塵。

　　4、比色皿清洗：

　　在每次測量結(jié)束或溶液更換時，您需要對比色皿進(jìn)行及時清洗，然后放在低濃度酸性溶液里浸泡，浸泡后用蒸餾水沖洗比色皿的內(nèi)外壁，否則比色皿壁上的殘留溶液會引起測量誤差。

　　5、電源檢查：

　　1）插電源插座時，請檢查當(dāng)前電壓是否與儀器標(biāo)識的電壓一致。

　　2）因為各個地區(qū)電網(wǎng)的質(zhì)量差異很大，所以為了使儀器運行得更穩(wěn)定和更可靠，建議給儀器外配一個穩(wěn)壓器。

　　3）儀器不用時請關(guān)機(jī)，并拔掉電源插頭，以防止實驗室的電源地線不好，而導(dǎo)致在雷雨天氣時損壞儀器。

　　6、提示：

　　為縮短自檢時間，儀器在開機(jī)時所進(jìn)行的自檢只是對一些常規(guī)的項目進(jìn)行檢查。而儀器在運輸、搬運與使用一段時間后（一般一個月）會導(dǎo)致結(jié)構(gòu)件累計誤差的產(chǎn)生，所以我們建議用戶在出現(xiàn)上述情況或感覺儀器測試數(shù)據(jù)與經(jīng)驗值相差較大時，應(yīng)對儀器進(jìn)行一次波長校正和暗電流校正。（具體操作方法見本手冊中的“系統(tǒng)應(yīng)用”一節(jié)）